MiniTest 700系列提供多種校準(zhǔn)方法，以滿足各種應(yīng)用，程序和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的個(gè)性化要求。 如果正在創(chuàng)建批次，則可以為此批次選擇合適的校準(zhǔn)方法。 您可以在創(chuàng)建批次后或在以后的測(cè)量模式下立即執(zhí)行校準(zhǔn)。 要在測(cè)量模式下調(diào)用校準(zhǔn)功能，請(qǐng)按功能鍵CAL。 只要在當(dāng)前活動(dòng)的批次中沒(méi)有存儲(chǔ)讀數(shù)，就可以更改校準(zhǔn)方法。

為了確保*校準(zhǔn)，應(yīng)遵循以下幾點(diǎn)：

1、正確的校準(zhǔn)對(duì)于測(cè)量至關(guān)重要。對(duì)于校準(zhǔn)，應(yīng)使用類(lèi)似于待測(cè)物體的樣品，即校準(zhǔn)樣品和待測(cè)量對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何形狀。通常，您可以說(shuō)，校準(zhǔn)樣品和后續(xù)測(cè)量對(duì)象的相似度越高，讀數(shù)越準(zhǔn)確，因此讀數(shù)的準(zhǔn)確度將越高。

2、確保校準(zhǔn)樣品和后續(xù)被測(cè)物體具有相同的特性，如： - 與表面相同的基體材料相同的曲率半徑（如導(dǎo)磁率，導(dǎo)電性;在理想情況下，應(yīng)由相同的材料制成）材料） - 相同的基板厚度 - 測(cè)量面積相同的尺寸。

3、開(kāi)始校準(zhǔn)之前，請(qǐng)確保校準(zhǔn)點(diǎn)，傳感器和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)清潔。如有必要，請(qǐng)清除任何積聚物，如油脂，金屬屑等。任何雜質(zhì)都可能會(huì)影響校準(zhǔn)，導(dǎo)致校準(zhǔn)錯(cuò)誤。

4、確保校準(zhǔn)位置和測(cè)量位置始終相同，特別適用于小零件的測(cè)量和邊緣和角落的測(cè)量。

5、在校準(zhǔn)過(guò)程中遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)。

6、為了zui大的校準(zhǔn)精度和以后的測(cè)量，請(qǐng)選擇與后續(xù)測(cè)量樣品相同厚度范圍內(nèi)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)厚度。

7、根據(jù)磁感應(yīng)法（用F1.5，F(xiàn)N1.5，F(xiàn)5，F(xiàn)N5或F15傳感器）測(cè)量鋼鐵或黑色金屬基底上厚厚的有色金屬涂層，必須進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。 厚度標(biāo)準(zhǔn)必須與待測(cè)物體的金屬相同。

8、如果使用校準(zhǔn)箔，請(qǐng)確保它們位于基材上的平面位置。 必須避免箔片下面的任何氣隙，否則會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。 如果箔彎曲，請(qǐng)確保將其放置在基板上，如下所示。

精密厚度標(biāo)準(zhǔn)必須小心處理。 任何厚度標(biāo)準(zhǔn)的磨損都將反映為不規(guī)則的校準(zhǔn)值。 不要折疊校準(zhǔn)箔。 任何彎曲將導(dǎo)致箔下面的氣隙，導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。 保持厚度標(biāo)準(zhǔn)清潔，不含油脂，油，灰塵或其他積聚物。 箔片上的積聚將被認(rèn)為是厚度，并且將導(dǎo)致與積聚厚度相同值的測(cè)量誤差。 給你一個(gè)粗略的想法：從指紋的積累將足以增加一些微米的額外的厚度。